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W-CDMA手机用功放的临道泄漏的低频因素分析
W-CDMA手机广泛应用于第三代移动通信系统中，功放的临道泄漏是其重要的性能指标之一。临道泄漏是指在发送端输出功率为最大时，射频信号漏到本地接收机产生的信号。随着移动通信的不断普及和用户对通信品质的要求越来越高，如何降低临道泄漏已经成为了一个重要的问题。
低频因素是产生功放临道泄漏的主要原因之一。这里我们将深入研究低频因素对功放临道泄漏的影响，并提出相应的解决方案。低频因素主要包括以下几个方面：
1.电源穿透噪声
电源穿透噪声是指从功率放大器反馈到电源的噪声干扰。这种噪声主要来自于功放器的输出直流偏置电压的变化。如果功率放大器的输出偏置电压变化较大，则会导致电源穿透噪声的增加，从而影响功放的线性度和临道泄漏。为了降低电源穿透噪声的影响，可以采用更好的电源滤波器和抑制器等手段。
2.射频杂波噪声
射频杂波噪声是由于功率放大器内部的杂散分布形成的高频噪声干扰。这种噪声在工作时会和合法的通信信号叠加在一起，导致接收端的干扰和误码率的增加。为了降低射频杂波噪声的影响，可以采用更好的射频滤波器和抑制器，降低功率放大器本身的杂散分布。
3.功放器非线性失真
功放器的非线性失真是指在功放器工作时，射频信号不按照线性方式进行处理，产生非线性扭曲和谐波等形式的失真。这种失真会导致接收端的干扰和误码率的增加。为了降低功放器的非线性失真，可以采用预失真技术、负反馈技术和双极性转换技术等手段。
4.温度变化影响
功率放大器的工作温度会对其性能产生很大的影响。温度变化会导致功率放大器内部电子器件的参数和性能变化，从而影响功放的输出功率、线性度和临道泄漏。因此需要采用更好的温度控制技术和散热技术来降低温度变化的影响。
在以上低频因素的影响因素中，电源穿透噪声影响最严重。因此，需要考虑采用更好的电源滤波器和抑制器等手段来降低其影响。另外，可采用高阶滤波器和更好的射频抑制器等手段来降低射频杂波噪声的影响。同时，可以采用预失真技术、负反馈技术和双极性转换技术等手段来降低功放器的非线性失真。
综上所述，降低临道泄漏是保证移动通信品质的重要步骤，在功率放大器设计和制造过程中，需要考虑所有因素的影响，并采用最佳的技术手段来降低临道泄漏的影响。