天线阵列校准系统和方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109643847A(43)申请公布日2019.04.16(21)申请号201780051930.1(74)专利代理机构中国国际贸易促进委员会专(22)申请日2017.08.25利商标事务所11038代理人汪晶晶(30)优先权数据62/380,3282016.08.26US(51)Int.Cl.15/611,2892017.06.01USH01Q3/26(2006.01)H01Q21/06(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日2019.02.25(86)PCT国际申请的申请数据PCT/EP2017/0714272017.08.25(87)PCT国际申请的公布数据WO2018/037112EN2018.03.01(71)申请人亚德诺半导体无限责任公司地址百慕大群岛(英)哈密尔顿(72)发明人A·I·卡利尔M·A·阿布德尔萨兰权利要求书2页说明书10页附图12页(54)发明名称天线阵列校准系统和方法(57)摘要本公开的各方面涉及使用设置在天线元件之间的探针的阵列校准系统和方法。在某些实施方案中，通过测量天线元件的近场相对相位和幅度测量并使用这种相对测量来调整连接到天线元件的收发器的幅度和相位来执行校准。在一些实施方案中，一组天线元件内的每个天线元件发送由单个探测器接收的信号，并且评估所接收的信号以确定相对相位或幅度测量值。在一些实施方案中，单个探测器发射由一组天线元件内的每个天线元件接收的信号，并且评估所接收的信号以确定相对相位和幅度测量。CN109643847ACN109643847A权利要求书1/2页1.一种天线阵列校准的电子实现方法，包括：使用所述天线阵列的第一探针确定第一校准组的第一近场幅度关系，其中所述第一校准组包括所述天线阵列的至少第一天线元件和所述天线阵列的第二天线元件，并且所述第一探针对称地设置在所述第一天线元件和所述第二天线元件之间；使用所述第一探针确定至少所述第一天线元件和所述第二天线元件之间的第一近场相位关系；和存储所述第一近场幅度关系和所述第一近场相位关系作为所述天线阵列的校准数据。2.权利要求1所述的方法，还包括：使用所述天线阵列的第二探针确定第二校准组的第二近场幅度关系，其中所述第二校准组包括所述天线阵列的至少第二天线元件和第三天线元件，并且所述第二探针对称地设置在所述第二天线元件和所述第三天线元件之间；使用所述第二探针确定至少所述第二天线元件和所述第三天线元件之间的第二近场相位关系；和存储所述第二近场幅度关系和所述第二近场相位关系作为所述天线阵列的校准数据。3.权利要求1所述的方法，其中确定第一近场幅度关系还包括使用所述第一探针确定所述天线阵列的第一天线元件、所述第二天线元件、第三天线元件和所述天线阵列的第四天线元件之间的幅度关系，其中所述第一探针对称地设置在所述第一天线元件、所述第二天线元件、所述第三天线元件和所述第四天线元件之间；和其中确定第一近场相位关系还包括使用所述第一探针确定所述第一天线元件、所述第二天线元件、所述第三天线元件和所述第四天线元件之间的相位关系。4.权利要求1所述的方法，还包括在校准该特定校准组期间停用未包括在所述特定校准组中的天线元件。5.权利要求1所述的方法，其中确定第一近场幅度关系还包括：从第一探针接收的第一天线元件监测信号电平的发射器发射射频信号，其中所述天线阵列的所有其他发射器关闭；和从第一探针接收的第二天线元件监测信号电平的发射器发射射频信号，其中所述天线阵列的所有其他发射器关闭。6.权利要求5所述的方法，其中确定第一近场相位关系还包括：从所述第一天线元件和所述第二天线元件的发射器发射相同幅度的信号；和相对于彼此相移所述信号以识别相位配置。7.权利要求6所述的方法，其中使用相控移位器执行相移。8.权利要求6所述的方法，其中确定第一近场相位关系还包括：相对于彼此相移信号以识别相位配置之外的180度。9.权利要求5所述的方法，其中信号电平包括幅度测量。10.权利要求5所述的方法，其中所述信号电平包括相位测量。11.权利要求1所述的方法，其中确定第一近场幅度关系还包括从所述探针发射射频信号并监视在所述第一和第二天线元件处接收的信号电平。12.权利要求11所述的方法，其中确定第一近场相位关系还包括：接收从所述探针发射的信号，其中发射的信号具有相同的幅度；和2CN109643847A权利要求书2/2页相对于彼此将接收的信号进行相移以在所述第一和第二天线元件处的相位配置中识别。13.一种具有内置校准组件的设备，包括：天线阵列的多个天线元件；天线阵列的多个探针，其中所述探针对称地设置在所述多个天线元件的天线元件组之间，其中每个组的编号至少为两个天线元件，其中所述探针能够接收射频(RF)信