量子比特参数的测量方法和装置、量子芯片的测试方法.pdf

本发明公开了一种量子比特参数的测量方法和装置、量子芯片的测试方法,在待测量子量子比特的参数测量过程中,仅需要技术人员设置我们想要的量子比特参数的精度需求即可,无需技术人员设置其它任何参数,然后依靠预先设置好的流程进行执行即可,有效降低了对操作人员的专业技术要求,在一定程度提高了量子比特参数的测量效率。并且我们可以通过调整第一预设条件来满足不同的精度应用场景,有效提高了本申请技术方案的适用范围。