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第三章透射电子显微镜分析利用紫外线，强烈地吸收；γ射线、X射线没有办法使其聚焦§3.1概述§3.1概述§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.3透射电镜的构造与工作原理在电磁透镜中，球差对分辨率的影响最为重要，因为没有一种简便的方法使其矫正过来。而其他像差在设计和制造时，采取适当的措施是可以消除的。2、电磁透镜2、电磁透镜2、电磁透镜2、电磁透镜二、照明系统二、照明系统二、照明系统二、照明系统三、成像系统与成像方法三、成像系统与成像方法三、成像系统与成像方法三、成像系统与成像方法§3.3透射电镜的构造与工作原理§3.2电子衍射及结构分析§3.2电子衍射及结构分析§3.2电子衍射及结构分析§3.2电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.4电子衍射及结构分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.5TEM显微图像衬度分析§3.6试样制备§3.6试样制备§3.6试样制备§3.6试样制备§3.6试样制备§3.6试样制备§3.6试样制备第四章扫描电子显微镜与电子探针§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.1扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscope--SEM）§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.2电子图像分析§4.3电子探针的工作原理与结构§4.3电子探针的工作原理与结构§4.3电子