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一种灵活TAM总线分配的SoC测试调度方法
摘要：
随着集成电路芯片不断的发展，片上系统（SoC）越来越受到重视和应用。在SoC设计中，测试调度是非常重要的一环，它涉及到芯片测试的有效性和测试时间的持续性。本文提出了一种灵活TAM总线分配的SoC测试调度方法，该方法主要通过对测试模式进行分析和优化，来实现测试调度中的灵活和高效，最终达到降低测试成本和提高测试覆盖率的目的。
关键词：SoC，测试调度，TAM总线，灵活，优化
一、背景
SoC是现代集成电路设计的一种新趋势，它将芯片的所有功能集成到一块芯片上，以消除不必要的复杂性，提高生产效率和降低成本。然而，由于SoC的设计复杂性和功能多样性，导致测试的难度和测试成本的增加，同时测试的时间也变得越来越长。因此，测试调度成为了SoC设计的一个重要问题，尤其是对于高密度、高带宽的TAM总线来说。
测试调度旨在确定测试序列，使其覆盖SoC中的所有故障，并尽可能地减少测试时间和测试成本。传统的测试调度方法主要基于线性扫描技术，它通常会产生大量的测试序列和测试数据，使得测试时间和测试数据的处理变得非常麻烦。因此，如何在保证测试质量的前提下，实现测试时间的缩短和测试数据的优化，成为了当前SoC测试设计的一个重要研究方向。
二、相关工作
为了解决传统测试调度中产生的问题，已经有很多的相关方法和算法被提出，例如图论方法、遗传算法、模拟退火算法等。这些方法通常都是基于特定的测试模型和算法进行测试序列和测试数据的生成和优化，以达到测试时间和测试数据的优化目的。
其中，TAM总线分配方法是比较有效的一种测试调度方法，它主要从总线带宽和总线利用率的角度出发，通过合理地分配总线资源，来降低测试时间和测试成本。然而，传统的TAM总线分配方法存在以下的缺点：
1.静态分配模式，不能根据具体测试需求进行灵活分配；
2.不能实现区域性的测试调度，导致测试序列数量过多和测试时间长；
3.分配方法不够高效，无法最大化利用总线资源。
因此，需要提出一种灵活TAM总线分配的SoC测试调度方法，以克服传统TAM总线分配方法存在的缺陷。
三、方法
本文提出的灵活TAM总线分配的SoC测试调度方法，主要基于以下两个方面进行设计和优化：
1.测试模式的合理分析和优化：
针对传统TAM总线分配方法中存在的问题，本文首先通过对测试模式的分析和优化，来确定合适的测试序列和测试数据。具体的方法如下：
（1）数据依赖的分析和优化：通过分析SoC的数据依赖关系，可以确定一些数据的重要性和相互依赖性。在生成测试序列和测试数据时，可以优先选取这些重要的数据进行测试，以提高测试覆盖率和测试的有效性。
（2）故障联合压缩：在生成测试序列和测试数据时，可以通过故障联合压缩的方法，来减少测试序列和测试数据的数量。具体的方法是，在测试序列生成的过程中，可以将相似的故障进行联合，降低总的测试数量和测试时间。
2.TAM总线资源的灵活分配
在确定了测试模式后，本文主要通过对TAM总线资源的灵活分配，来实现测试调度中的灵活和高效。具体的方法如下：
（1）动态总线分配模式：在灵活分配总线资源的过程中，本文采用了动态分配模式，即能够根据具体测试需求，动态地对总线带宽和总线资源进行优化和分配。这样可以实现区域性的测试调度，最小化测试序列和数据的数量。
（2）算法的高效性：为了最大化利用总线资源，本文采用基于遗传算法和模拟退火算法的优化方法，来确定最优的总线分配方案。这样能够快速地找到测试序列和数据的较优解，从而降低测试成本和提高测试效率。
四、实验和结果
本文通过实验和仿真，来验证所提出的灵活TAM总线分配的SoC测试调度方法的有效性和优越性。具体实验内容如下：
1.对比传统TAM总线分配方法和本文方法的实验结果，来展示本文方法的高效性和优越性；
2.对不同测试模式下的总线分配效果进行实验和仿真，来验证本文方法的灵活性和可行性；
3.对不同测试时间和测试数据量下的总线分配效果进行实验和仿真，来验证本文方法的适用性和稳定性。
五、结论和展望
本文基于灵活TAM总线分配方法，实现了SoC测试调度中的灵活和高效。实验和仿真结果表明，所提出的方法可以达到较好的测试效果和测试时间优化，同时能够减少测试成本和测试数据的数量。
未来，我们将继续对灵活TAM总线分配的SoC测试调度方法进行优化和改善，以提高测试效果和测试时间的普适性和稳定性。