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透射电子显微学课程内容总结（大全）

第一篇：透射电子显微学课程内容总结（大全）第一章倒易点阵及电子衍射基础1.正、倒点阵基本矢量之间的关系。答：2.倒易矢量、零层倒易面和正点阵的对应关系。3.正点阵和相应倒易点阵的对应关系。4.为什么单晶电子衍射图是二维（零层）倒易平面的投影？5.结构因子及其物理意义。6.偏离参量。第二章单晶电子衍射图的分析及标定1.晶带定律及其应用。2.尝试校核法标定单晶电子衍射图的步骤。3.完成单晶衍射图的标定。4.标定单晶电子衍射图的注意事项。第三章孪晶电子衍射图的分析1.孪晶倒易点阵的对称关系。2.完成孪晶衍射图的标定。第四章菊池衍射图的分析及应用1.菊池线位置随晶体取向的变化。2.菊池衍射图的应用（测定偏离参量s）。第五章两相取向关系的测定1.利用已知取向关系的变换矩阵标定两相的电子衍射图。2.利用矩阵分析法测定两相取向关系（未知）的步骤。第六章高阶劳厄区电子衍射图的分析及应用1.高阶劳厄斑点的几何特征。2.标定高阶劳厄斑点指数。第七章晶体的其它衍射效应及复杂衍射花样特征1.超点阵斑点的几何特征。2.二次衍射斑点的几何特征。第八章晶体薄膜的衍射衬度原理1.消光距离。2.衍衬运动学理论的基本假设及其相应的实验条件。3.等厚条纹和等倾条纹。第九章晶体缺陷和第二相的衍衬分析1.晶体缺陷的不可见性及其判据。2.测定位错布氏矢量的方法原理。3.面心立方晶体中层错的可见性及层错的衬度特征。4.影响测定位错密度结果准确性的因素。5.第二相的衬度。6.边界、边界和边界的衬度特征。第十章弱束暗场技术1.弱束暗场成像原理。2.弱束像的类型及其操作。第二篇：X射线衍射与电子显微学课程教学大纲《X射线衍射与电子显微学》课程教学大纲一、课程说明（一）课程名称、所属专业、课程性质、学分；课程名称：X射线衍射与电子显微学所属专业：材料物理课程性质：专业基础课学时：90（5学时/周）（二）课程简介、目标与任务；本课程主要针对材料物理专业的本科生开设。通过对X射线衍射和电子显微术的学习，对这两种材料分析方法有一个较全面的认识，使学生能够了解X射线衍射分析和电子显微术的基本原理、过程、设备及应用，掌握相应的基础知识和基本技能，使学生能够正确地运用X射线衍射和电子显微分析技术开展有关的科学研究，为今后从事材料的研究工作打下必要的理论基础。（三）先修课程要求，与先修课与后续相关课程之间的逻辑关系和内容衔接：先修课程要求：普通物理，高等数学，晶体学基础学本课程之前需具备一定的普通物理和晶体学知识，以及高等数学知识。（四）教材与主要参考书。教材：1.《晶体X射线衍射学基础》，李树棠，冶金工业出版社2.《电子显微分析》，章晓中，清华大学出版社，2006年。主要参考书:1.左演生，《材料现代分析方法》，北京工业大学出版社2.周玉，《材料分析方法》，哈尔滨工业大学，机械工业出版社3.梁栋材，《X射线晶体学基础》，科学出版社4.黄胜涛，《固体X射线学》，高等教育出版社电子显微图像分析原理与应用,黄孝瑛等,宇航出版社，1987年。5.透射电子显微学进展，叶恒强，王元明主编，科学出版社，2003年6.金属电子显微分析，陈世朴，王永瑞，机械工业出版社，1985年7.分析电子显微学导论，戎咏华著，高等教育出版社，（2006）二、课程内容与安排X射线衍射：（45学时）0.绪论（1学时）第一章X射线的产生和性质（4学时）1.1X射线的本质1.2X射线的产生1.3X射线谱1.4X射线与物质的相互作用1.5X射线的防护第二章几何晶体学基础（4学时）2.1晶体结构和空间点阵2.2晶体对称的基本概念2.3晶面和晶向指数2.4倒易点阵2.5晶带第三章X射线衍射的几何原理（5学时）3.1X射线在晶体中的衍射3.2产生衍射的几何条件3.3X射线衍射实验方案第四章X射线衍射线的强度（6学时）4.1一个电子对X射线的散射4.2一个原子对X射线的散射4.3一个晶胞对X射线的散射4.4一个小晶体对X射线的散射4.5粉末多晶体衍射的积分强度4.6衍射强度的计算第五章多晶体衍射的照相方法（1学时）5.1成相原理5.2德拜-谢乐法5.3其它照相法第六章X射线衍射仪（6学时）6.1测角仪6.2辐射探测器6.3测量记录系统6.4数据处理系统6.5测量方法和测量参数的选择6.6衍射峰的强度6.7衍射峰位的确定6.8衍射花样的指标化第七章X射线物相分析（6学时）7.1定性相分析7.2定量相分析第八章点阵常数的精确测定（4学时）8.1原理8.2误差来源8.3误差的消除第九章晶粒尺寸和点阵畸变的测定（4学时）9.1衍射线的宽化效应9.2晶粒尺寸和点阵畸变的测定第十章宏观应力的测定（2学时）10.1基本原理10.2测试技术第十一章非晶材料的X射线散射分析（2学时）10.1非晶物质结构的主要特征1