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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113963660A(43)申请公布日2022.01.21(21)申请号202110584509.5(22)申请日2021.05.27(30)优先权数据10-2020-00902102020.07.21KR(71)申请人三星显示有限公司地址韩国京畿道龙仁市(72)发明人金钟满朴亨根(74)专利代理机构北京铭硕知识产权代理有限公司11286代理人韩芳张晓(51)Int.Cl.G09G3/3208(2016.01)G09G3/3233(2016.01)权利要求书3页说明书13页附图9页(54)发明名称显示装置和补偿显示装置中的图像残留的方法(57)摘要提供了一种显示装置和补偿显示装置中的图像残留的方法。所述显示装置包括:显示面板,包括多个像素;数据驱动器,被配置为向多个像素提供数据信号;扫描驱动器,被配置为向多个像素提供扫描信号;以及控制器,被配置为控制数据驱动器和扫描驱动器。控制器包括易失性寿命存储器和内部寿命存储器,易失性寿命存储器被配置为存储多个像素的累积劣化量,内部寿命存储器被配置为存储基于累积劣化量生成的备份累积劣化量。控制器进一步被配置为通过选择性地使用存储在易失性寿命存储器中的累积劣化量或存储在内部寿命存储器中的备份累积劣化量来补偿输入图像数据。CN113963660ACN113963660A权利要求书1/3页1.一种显示装置,所述显示装置包括:显示面板,包括多个像素;数据驱动器,被配置为向所述多个像素提供数据信号;扫描驱动器,被配置为向所述多个像素提供扫描信号;以及控制器,被配置为控制所述数据驱动器和所述扫描驱动器,并且包括易失性寿命存储器和内部寿命存储器,所述易失性寿命存储器被配置为存储所述多个像素的累积劣化量,所述内部寿命存储器被配置为存储基于所述累积劣化量生成的备份累积劣化量,其中,所述控制器进一步被配置为通过选择性地使用存储在所述易失性寿命存储器中的所述累积劣化量或存储在所述内部寿命存储器中的所述备份累积劣化量来补偿输入图像数据。2.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述控制器还包括图像残留补偿电路,其中,所述易失性寿命存储器位于所述图像残留补偿电路外部,其中,所述内部寿命存储器位于所述图像残留补偿电路内部,其中,在第一帧中,所述图像残留补偿电路基于所述输入图像数据来计算当前劣化量,通过累加所述当前劣化量来计算第一累积劣化量,将所述第一累积劣化量写入到所述易失性寿命存储器,基于所述第一累积劣化量生成所述备份累积劣化量,并且将所述备份累积劣化量写入到所述内部寿命存储器,并且其中,在第二帧中,所述图像残留补偿电路从所述易失性寿命存储器读取第二累积劣化量,将从所述易失性寿命存储器读取的所述第二累积劣化量与在所述第一帧中计算出的所述第一累积劣化量进行比较,在从所述易失性寿命存储器读取的所述第二累积劣化量与在所述第一帧中计算出的所述第一累积劣化量相等的第一情况下通过使用从所述易失性寿命存储器读取的所述第二累积劣化量来在所述第二帧中补偿所述输入图像数据,并且在从所述易失性寿命存储器读取的所述第二累积劣化量不同于在所述第一帧中计算出的所述第一累积劣化量的第二情况下通过使用存储在所述内部寿命存储器中的所述备份累积劣化量来在所述第二帧中补偿所述输入图像数据。3.根据权利要求2所述的显示装置,其中,所述图像残留补偿电路被配置为:计算从所述易失性寿命存储器读取的所述第二累积劣化量的第一校验和;计算通过累加所述当前劣化量而计算出的所述第一累积劣化量的第二校验和;以及通过将所述第一校验和与所述第二校验和进行比较来确定从所述易失性寿命存储器读取的所述第二累积劣化量是否与通过累加所述当前劣化量而计算出的所述第一累积劣化量相等。4.根据权利要求2所述的显示装置,其中,以第一像素块为单位计算所述第一累积劣化量,其中,以第二像素块为单位计算所述备份累积劣化量,并且其中,所述第二像素块的尺寸比所述第一像素块的尺寸大。5.根据权利要求2所述的显示装置,其中,所述图像残留补偿电路包括:所述内部寿命存储器;当前寿命计算器电路,被配置为在所述第一帧中将所述输入图像数据划分为对应于多个第一像素块的多个块图像数据,并且基于所述多个块图像数据计算所述多个第一像素块2CN113963660A权利要求书2/3页的所述当前劣化量;累积寿命计算器电路,被配置为通过累加所述多个第一像素块的所述当前劣化量来计算所述多个第一像素块的所述第一累积劣化量,将所述多个第一像素块的所述第一累积劣化量写入到所述易失性寿命存储器,通过将所述多个第一像素块的所述第一累积劣化量合并来生成多个第二像素块的所述备份累积劣化量,并且将所述多个第二像素块的所述备份累积劣化量写入到所述内部寿命存储器;数据补偿器电路,被
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