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LTE发射机ACLR性能的测量技术
LTE（LongTermEvolution）是一种4G无线通信技术，具有高速数据传输、低延迟和高频谱效率等优势。在LTE系统中，发射机ACLR（AdjacentChannelLeakageRatio）指标对通信系统的性能起着重要作用。本文将重点介绍LTE发射机ACLR性能的测量技术。
一、引言
LTE系统是一种采用OFDMA（正交频分多址）调制技术的无线通信系统。在OFDMA中，不同子载波之间存在相互干扰的问题，因此LTE系统需要通过ACLR指标来评估发射机的性能。ACLR是指发射机向相邻信道中的干扰功率与主要信号功率之比，通常以dBc（dBrelativetothecarrier）为单位表示。
二、测量原理
ACLR的测量原理是通过频谱分析仪对信号进行解调和相互干扰项的测量来实现的。具体而言，分为以下几个步骤：
1.选择相应的测试信号：一般选择正常工作条件下的PDSCH（PhysicalDownlinkSharedChannel）信号，在PDSCH上加上测试用例所需的干扰项。
2.测量主要信号功率：将测试信号输入频谱分析仪中，通过解调和功率测量功能，得到主要信号的功率。
3.测量干扰项功率：接收到的信号通过解调、滤波和功率测量后，得到干扰项的功率。
4.计算ACLR：将干扰项功率与主要信号功率进行比较，即可得到ACLR的值。
三、关键技术
要准确测量LTE发射机的ACLR性能，需要掌握以下几个关键技术：
1.高精度功率测量技术：对于LTE系统来说，主要信号功率和干扰项功率都需要进行准确测量，因此需要采用高精度的功率测量技术，如校准合格的功率传感器。
2.线性度测试技术：要求发射机具有良好的线性度，即在不同输出功率下，ACLR的性能保持稳定。线性度测试技术主要通过调整发射机的增益和衰减来实现，通过测量不同功率下的ACLR值，评估线性度性能。
3.频率误差校正技术：LTE系统要求发射机的频率误差小于0.1ppm（partspermillion），频率误差将导致ACLR性能下降。频率误差校正技术主要通过使用高精度的频率源和频率计进行校准，确保发射机的频率误差在规定范围内。
4.干扰抑制技术：LTE系统中，干扰抑制技术对提高ACLR性能至关重要。常见的干扰抑制技术包括发射机的滤波和预加重技术，通过这些技术可以减小干扰项的功率，提高ACLR性能。
四、测量误差和改进方法
在实际测量过程中，由于设备和环境因素等原因会引入一定的测量误差。这些误差主要包括信号强度误差、频率误差和时钟误差等。为了减小这些误差并提高测量的准确性，可以采取以下改进方法：
1.信号平滑处理：对测量信号进行滤波平滑处理，去除突发噪声和干扰，提高信号的稳定性。
2.频率校准：定期对发射机进行频率校准，减小频率误差对ACLR性能的影响。
3.时钟同步：使用外部时钟源同步发射机和频谱分析仪的时钟，以保证测量的同步性。
4.测量标准化：定期校准测试设备，使用标准源和校准仪器对测试设备进行验证和标定，提高测量结果的准确性和可比性。
五、总结
LTE发射机的ACLR性能对于LTE系统的正常运行和无线网络的覆盖范围有重要影响。本文介绍了LTE发射机ACLR性能的测量技术，包括测量原理、关键技术和测量误差的改进方法。准确测量和改进发射机的ACLR性能，可以提高LTE系统的性能指标，保证用户的通信质量和无线网络的覆盖范围。未来，随着LTE技术的不断演进和5G技术的发展，ACLR的测量技术将继续得到改进和完善，以更好地满足无线通信系统的需求。