核分析基础考试题库2014年4月版.doc

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一，选择题
核分析方法的分类。
活化分析，离子束分析，核效应分析。
活化分析的定义。
一种由中子、带电粒子、γ射线等将样品活化,对其衰变特性进行测量的分析技术。
离子束分析技术包括哪些？
瞬发核反应分析、背散射、沟道技术、质子激发X荧光分析
中子活化分析中的相对测量方法。
是将待分析样品与已知浓度的标准样品作比较测量，从而求得元素浓度。
中子活化分析方法的分类。
慢中子活化分析和快中子活化分析。
中子活化分析中初级干扰反应。
不同元素通过不同中子反应道形成相同的放射性核素
测量中子活化分析中辐照生成，放射性核素活度，γ射线强度有哪些方法。
1）衰变曲线法，2）能谱法，3）能谱和衰变曲线法的结合。
仪器中子活化分析，放射化学中子分析，带电子粒子活化分析，重粒子活化分析，γ光子活化分析的英文缩写。
仪器中子活化分析INAA
放射化学中子分析RNAA
带电子粒子活化分析CPAA
重粒子活化分析HIAA
光子活化分析GPAA
带电粒子活化分析设备包括哪些。
辐照设备、样品表面处理设备、放射性测量设备。
中子活化分析的样品是装在哪个特殊的容器中？
样品装在特殊的容器（称跑兔）内
中子活化分析的辐照源分类
1）反应堆中子源，2）加速器中子源，3）同位素中子源。
带电粒子活化分析的组织本领。
带电粒子进入靶物质后，与靶原子的电子和靶原子核碰撞而损失能量。
反应道。
能发生核反应的过程不止一种，对应于每一种核反应过程，称为一个反应道。
带电粒子辐照样品时，放射性活度的增长与什么有关。
放射性核素活度的增长与一定能量下的反应截面，束流强度和辐照时间有关。
带电子粒子核反应的瞬发。
带电粒子核反应瞬发分析法是直接测量核反应过程中伴随发射的辐射确定反应原子核的种类和元素浓度的方法。
带电子粒子核反应瞬发探测记录到的样品中，同一深度处能量有什么分布，造成什么的不确定性。
探测器记录到的样品中同一深度x处发射的粒子能量有一分布(谱线展宽)，因而造成对深度分析的不确定性。
带电子粒子核反应瞬发能谱分析法，共振核反应分析法测量深度分布时深度分辨率。
能谱分析法的典型深度分辨率为几十到几百nm量级。
带电粒子核反应分析包括哪些。
带电粒子缓发分析（带电粒子活化分析）、带电粒子瞬发分析。
带电粒子弹性散射分析包括哪些。
带电粒子弹性散射分析包括：卢瑟福背散射分析、前向弹性反冲分析。
卢瑟福背散射中三个主要参量。
1)运动学因子,2)散射截面,3)能量损失因子。
背散射分析的灵敏度由什么决定。
背散射分析的灵敏度由散射截面及样品性质决定。由于散射粒子计数N正比于散射截面σ，故截面越大，计数越多，分辨越好。
沟道技术。
利用带电粒子与单晶体的相互作用研究物质微观结构的一种分析技术。
用什么测量，观察沟道现象。
通常：用测量背散射产额随入射角ψ的变化来观察沟道现象。
对于沟道效应沿着主晶轴方向入射时，角分布半高宽度典型值是多少。
对沟道效应，沿着主晶轴方向入射时，ψ1/2的典型值为零点几度到几度之间。
沟道计数退道程度的影响因素。
入射束的方向准直性、单晶表面的无定形影响和晶体中的缺陷、杂质的存在等。
带电离子的能量损失是随机损失的多少？
一般，在沟道中带电粒子的能量损失是随机时的能量损失的1/2~2/3。且随入射离子种类、能量以及晶轴或晶面方向不同而异。
沟道实验计数的实验几何分布。
实验几何分类
视单晶样品厚薄，可采用透射几何和散射几何
按离子与晶轴的定向条件，可分为单定向和双定向

X荧光定性分析的物理基础。
莫塞莱定律
荧光产额。
发射X射线荧光的几率
二，解答题
中子活化分析的原理。
靶样品在中子束照射下，通过(n,γ)，(n,α)，(n,p)的等反应生成放射性核素，处理照射样品，测量放射性活度和射线能量，可以确定靶样品中某种核素的含量和种类。
活化分析的原理。
中子、带电粒子或γ射线同样品中所含核素发生核反应，使之成为放射性核素(这个过程称为活化)，测量此放射性核素的衰变特性（如半衰期、射线的能量和射线的强度等）来确定待分析样品中所含核素的种类及其含量。
中子活化分析的标准化方法有哪些。
绝对测量法；相对测量法
中子活化分析方法的干扰因素。
中子活化分析中的干扰？
1）不同元素通过不同核反应形成同一种被用来作鉴定的放射性核素；
2）生成的不同放射性核素的半衰期相近及发射的γ射线能量差小于探测器能量分辨率；
3）某种放射性核素衰变后的子核与待鉴定的核素相同；
4）测量γ射线时的其它本底干扰；等。
来自于核反应的干扰包括：初级反应和次级反应两种。
中子活化分析的主要设备。
辐照中子源、样品传送设备及必要的放射化学分离设备、射线能量和强度测量设备，以及数据记录和处理设备。
样品制备考虑哪些因素。
1）样品的大小、状