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计组实验数据通路实验报告 第一篇:计组实验数据通路实验报告存储器实验预习实验报告疑问:1、数据通路是干嘛的?2、数据通路如何实现其功能?3、实验书上的存储器部分总线开关接在高电平上,是不是错了?一、波形图:参数设置:信号设置:clk:bus_sel:alu_sel:ld_reg:pc_sel:we_rd:k:d:d~result:ar:pc:仿真波形实验报告Endtime:2.0usGridsize:100.0ns时钟信号,设置周期为100ns占空比为50%。sw|r4|r5|alu|pc_bus的组合,分别代表的是总线(sw_bus)开关,将存储器r4的数据显示到总线上,将存储器r5的数据显示到总线上,将alu的运算结果显示到总线上,将pc的数据打入AR中二进制输入,低电平有效。m|cn|s[3..0]的组合,代表运算器的运算符号选择,二进制输入,高电平有效。lddr1|lddr2|ldr4|ldr5|ld_ar的组合,分别表示将总线数据载入寄存器r1,r2,r4,r5或AR中,二进制输入,高电平有效。pc_clr|ld|en的组合,分别代表地址计数器PC的清零(pc_clr)、装载(pc_ld)和计数使能信号(pc_en),二进制输入,低电平有效。信号we和rd的组合,分别代表对ram的读(we)与写(rd)的操作,二进制输入,高电平有效k[7]~k[0],数据输入端信号,十六进制输入。d[7]~d[0],数据输出中间信号,十六进制双向信号。d[7]result~d[0]result,最终的数据输出信号,十六进制输出。ar[7]~ar[0],地址寄存器AR的输出结果,十六进制输出。pc[7]~pc[0],地址计数器PC的输出结果,十六进制输出。以在01H单元中写入05H、02H单元中写入0AH并进行【(A加B)减(非A与B)加B】为例:1)初始状态:bus_sel=11111,alu_sel=00000,ld_reg=00000,pc_sel=100,we_rd=00,k=00H,总线上无数据,呈高阻态。2)读取01H单元的05A:①置数法PC=01H:bus_sel=01111,pc_sel=101②PC->AR:bus_sel=11110,ld_reg=00001③读01H单元的数据放入R1中:bus_sel=11111,ld_reg=10000,we_rd=013)读取02H单元的0AH:①PC+1,PC->AR:bus_sel=11110,ld_reg=00001,pc_sel=111②读01H单元的数据放入R2中:bus_sel=11111,ld_reg=01000,we_rd=014)将地址加到03H:bus_sel=11110,ld_reg=00001,pc_sel=1115)验证数据并运算:bus_sel=11101①读取R1中的数据:alu_sel=010000,得到R1=05H②读取R2中的数据:alu_sel=101010,得到R2=0AH③计算(A加B)结果存于R4中:alu_sel=011001,ld_reg=00100,结果为0FH④计算(非A与B)结果存于03H单元中:alu_sel=100010,we_rd=10,结果为0AH⑤计算((A加B)加B)结果存于04H单元中:R4->R1:bus_sel=10111,ld_reg=10000PC+1,PC->AR:bus_sel=11110,ld_reg=00001,pc_sel=111计算((A加B)加B)结果存于04H单元中:bus_sel=11101,alu_sel=011001,we_rd=10⑥计算(((A加B)加B)减(非A与B))结果存于05H中:((A加B)加B)->R1:bus_sel=11111,ld_reg=10000,we_rd=01(非A与B)->R2:PC=03H:k=03H,bus_sel=01111,pc_sel=101PC->AR:bus_sel=11110,ld_reg=00001(非A与B)->R2:bus_sel=11111,ld_reg=01000,we_rd=01PC=05H:PC=05H:k=03H,bus_sel=01111,pc_sel=101PC->AR:bus_sel=11110,ld_reg=00001(((A加B)加B)减(非A与B))结果存于05H中:bus_sel=11101,alu_sel=000110,we_rd=10最后结果为0FH。结论:本实验的设计能结合了运算器和存储器,能实现在mif文件中进行初始化,将固定地址单元中存储的数据读取到运算器中进行(((A加B)加B)减(非A与B))的运算并将结果存于指定的内存单元中,与实验要求一致,故电路设计正确。

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