2017800013268上电复位时间的测量方法及系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN109863410B
(45)授权公告日2021.03.05
(21)申请号201780001326.8(51)Int.Cl.
(22)申请日2017.09.19G01R31/00(2006.01)(续)
(65)同一申请的已公布的文献号(56)对比文件
申请公布号CN109863410ACN106324395A,2017.01.11
CN105676105A,2016.06.15
(43)申请公布日2019.06.07US5365481A,1994.11.15
(85)PCT国际申请进入国家阶段日US2007266280A1,2007.11.15
2017.10.25US2017168100A1,2017.06.15
(86)PCT国际申请的申请数据CN103793032A,2014.05.14
PCT/CN2017/1023442017.09.19CN102480283A,2012.05.30
CN103197998A,2013.07.10
(87)PCT国际申请的公布数据CN105116316A,2015.12.02
WO2019/056192ZH2019.03.28CN106489109A,2017.03.08
(73)专利权人深圳市汇顶科技股份有限公司CN104345849A,2015.02.11
地址518045广东省深圳市福田保税区腾CN101221205A,2008.07.16
飞工业大厦B座13层CN106374896A,2017.02.01
(72)发明人李庆斌陈德坤JPS61257085A,1986.11.14(续)
(74)专利代理机构上海晨皓知识产权代理事务审查员张虹
所(普通合伙)31260
代理人成丽杰权利要求书2页说明书8页附图4页
(54)发明名称的测量上电复位时间，提高了上电复位电路的验
上电复位时间的测量方法及系统证效率。
(57)摘要
一种上电复位时间(T(P))的测量方法及系
统，涉及电路技术领域。上电复位时间(T(P))的
测量方法包括：检测待测芯片的电源脚电压，将
电源脚电压达到预设电压的时间点，记为第一时

间点(T1)(101，201)；检测待测芯片的预设管脚
的输出信号，将预设管脚在待测芯片上电后第一
次完成脉冲输出的时间点，记为第二时间点

(T2)，并将预设管脚在待测芯片上电后第二次完

成脉冲输出的时间点，记为第三时间点(T3)
(102，202)；其中，第一次输出的脉冲与第二次输

出的脉冲的宽度相同；根据第一时间点(T1)、第

二时间点(T2)和第三时间点(T3)计算得到待测
芯片的上电复位时间(T(P))(103，203)；相应的

CN109863410B上电复位时间(T(P))的测量系统能够较为准确

[转续页]
CN109863410B2/2页
[接上页]
(51)Int.Cl.WO2014151812A2,2014.09.25
G01R31/28(2006.01)曹正州等.一种支持宽范围上电时间的上
(56)对比文件电复位电路设计《.电子与封装》.2017,第17卷
US2007101166A1,2007.05.03(第7期),

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CN109863410B权利要求书1/2页

1.一种上电复位时间的测量方法，其特征在于，包括：
检测待测芯片的电源脚电压，将所述电源脚电压达到预设电压的时间点，记为第一时
间点；
检测所述待测芯片的预设管脚的输出信号，将所述预设管脚在所述待测芯片上电后第
一次完成脉冲输出的时间点，记为第二时间点，并将所述预设管脚在所述待测芯片上电后
第二次完成脉冲输出的时间点，记为第三时间点；其中，第一次输出的脉冲与第二次输出的
脉冲的宽度相同；
根据所述第一时间点、所述第二时间点和所述第三时间点，计算得到所述待测芯片的
上电复位时间；
其中，所述根据所述第一时间点、所述第二时间点和所述第三时间点，计算得到所述待
测芯片的上电复位时间，具体包括：

根据公式T(P)＝(T2-T1)-(T3-T2)，计算所述待测芯片的上电复位时间；

其中，T(P)为待测芯片的上电复位时间，T1为第一时间点，T2为第二时间点，T3为第三时
间点。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
在计算得到所述待测芯片的上电复位时间后，根据上电复位电路的复位触发时间，对
所述上电复位时间进行修正。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述上电复位电路的复位触发时间为预设
值。
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
在所述检测待测芯片的电源脚电压的过程中，将所述电源脚电压从无到有的时间点，
记为第四时间点；
所述根据上电复位电路的复位触发时间，对所述上