发明授权-2018111282175-盘装置和盘装置的制造方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN110085265B
(45)授权公告日2020.10.16
(21)申请号201811128217.5(74)专利代理机构北京市中咨律师事务所
(22)申请日2018.09.2711247
代理人林娜段承恩
(65)同一申请的已公布的文献号
申请公布号CN110085265A(51)Int.Cl.
G11B5/55(2006.01)
(43)申请公布日2019.08.02G11B5/588(2006.01)
(30)优先权数据(56)对比文件
2018-0119812018.01.26JPCN101252002A,2008.08.27
2018-1471402018.08.03JPUS9025269B1,2015.05.05
(73)专利权人株式会社东芝CN1822093A,2006.08.23
地址日本东京都审查员付庆庆
专利权人东芝电子元件及存储装置株式会

社
(72)发明人朝仓诚田上尚基原武生

权利要求书3页说明书20页附图23页
(54)发明名称
盘装置和盘装置的制造方法
(57)摘要
一个实施方式提供能够容易地提高盘介质
的数据容量的盘装置。根据一个实施方式，提供
了具有头和盘介质的盘装置。头具有第1读出元
件和第2读出元件。盘介质被分割为多个区。多个
区包含第1区和第2区。第1区包含多个配置有伺
服区域和数据区域的轨道，在轨道中，伺服区域
内的用于检测头从轨道中心偏离的偏离轨道量
的伺服突发区域具有第1位长。第2区包含配置有
伺服区域和数据区域的轨道，在轨道中，伺服区
域内的用于检测头从轨道中心偏离的偏离轨道
量的伺服突发区域具有第2位长。第2位长比第1
位长短。
CN110085265B
CN110085265B权利要求书1/3页

1.一种盘装置，具备：
头，具有第1读出元件和第2读出元件；和
盘介质，被分割为多个区，
所述多个区包含：
第1区，包含多个配置有伺服区域和数据区域的轨道，在所述轨道中，所述伺服区域内
的用于检测所述头从轨道中心偏离的偏离轨道量的伺服突发区域具有第1位长；和
第2区，包含多个配置有伺服区域和数据区域的轨道，在所述轨道中，所述伺服区域内
的用于检测所述头从轨道中心偏离的偏离轨道量的伺服突发区域具有比所述第1位长短的
第2位长。
2.根据权利要求1所述的盘装置，
所述第1区中的所述伺服突发区域包含第1突发图形和第2突发图形，
所述第2区中的所述伺服突发区域包含所述第1突发图形但不包含所述第2突发图形，
或者包含所述第1突发图形且包含位长比所述第1区中的所述第2突发图形短的所述第2突
发图形。
3.根据权利要求2所述的盘装置，
还具备位置检测单元，该位置检测单元在第1处理和第2处理之间进行切换，
所述第1处理是根据所述第1突发图形和所述第2突发图形的检测结果求出所述头的偏
离轨道量来检测当前头位置的处理，
所述第2处理是根据所述第1突发图形的由所述第1读出元件得到的检测结果、所述第1
突发图形的由所述第2读出元件得到的检测结果以及在半径方向上的所述第1读出元件和
所述第2读出元件的偏移量求出所述头的偏离轨道量来检测当前头位置的处理。
4.根据权利要求3所述的盘装置，
所述偏移量是基于读出元件间的物理上的配置关系和所述头的移动速度而算出为读
出元件间的行走轨迹在半径方向上偏移的量的偏移量。
5.根据权利要求3所述的盘装置，
所述位置检测单元在所述头位于所述第1区的情况下进行所述第1处理，在所述头位于
所述第2区的情况下进行所述第2处理。
6.根据权利要求3所述的盘装置，
所述位置检测单元在所述头从所述第1区向所述第2区移动的情况下，在所述第1区内
进行从所述第1处理向所述第2处理的切换。
7.根据权利要求3所述的盘装置，
所述位置检测单元在所述头从所述第2区向所述第1区移动的情况下，在所述第1区内
进行从所述第2处理向所述第1处理的切换。
8.根据权利要求1或2所述的盘装置，
所述第1区中的伺服轨道间距比所述第2区中的伺服轨道间距窄。
9.根据权利要求1或2所述的盘装置，
所述头位于所述第1区的情况下的所述第1读出元件的中心与所述第2读出元件的中心
的半径方向的偏移量的绝对值，大于所述头位于所述第2区的情况下的所述第1读出元件的
中心与所述第2读出元件的中心的半径方向的偏移量的绝对值。

2
CN110085265B权利要求书2/3页
10.一种盘装置的制造方法，所述盘装置具有头和盘介质，所述头具有第1读出元件和
第2读出元件，该制造方法包括：
记录包含第1突发图形和第2突发图形的伺服图形，在所述盘介质的多个半径位置分别
形成包含记录所述第1突发图形和所述第2突发图形的伺服突发区域的伺服区域；
针对