发明授权-2018115977239-磁盘装置以及头位置的修正方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN110931051B
(45)授权公告日2021.08.03
(21)申请号201811597723.9(51)Int.Cl.
(22)申请日2018.12.26G11B5/596(2006.01)
(65)同一申请的已公布的文献号(56)对比文件
申请公布号CN110931051AUS2007297088A1,2007.12.27
CN106486142A,2017.03.08
(43)申请公布日2020.03.27CN102760450A,2012.10.31
(30)优先权数据CN107180646A,2017.09.19
2018-1746502018.09.19JP审查员杨松林

(73)专利权人株式会社东芝
地址日本东京都
专利权人东芝电子元件及存储装置株式会
社
(72)发明人田上尚基
(74)专利代理机构北京市中咨律师事务所
11247
代理人徐健段承恩权利要求书1页说明书11页附图11页
(54)发明名称
磁盘装置以及头位置的修正方法
(57)摘要
实施方式提供一种能够改善伺服定位精度
的磁盘装置以及头位置的修正方法。实施方式所
涉及的磁盘装置具备：盘，其具有包括伺服扇区
的记录区域；头，其对上述盘写入数据，从上述盘
读取数据；以及控制器，其取得与根据读取上述
伺服扇区而取得的第一线性误差来设定的多个
测定位置分别对应的、对上述记录区域的可重复
性偏摆的多个修正数据，根据上述多个修正数据
来修正上述头的位置。
CN110931051B
CN110931051B权利要求书1/1页

1.一种磁盘装置，具备：
盘，其具有包括伺服扇区的记录区域；
头，其对上述盘写入数据，从上述盘读取数据；以及
控制器，其取得与根据读取上述伺服扇区而取得的第一线性误差来设定的多个测定位
置分别对应的、对上述记录区域的可重复性偏摆的多个修正数据，根据上述多个修正数据
来修正上述头的位置，
上述控制器随着上述第一线性误差变大而缩小上述多个测定位置的间隔。
2.根据权利要求1所述的磁盘装置，
上述控制器根据与在读取了上述伺服扇区时取得的上述第一线性误差对应的参数来
设定上述多个测定位置。
3.根据权利要求2所述的磁盘装置，
上述控制器根据上述参数和表示上述参数与上述多个测定位置的关系的第一式来设
定上述多个测定位置。
4.根据权利要求1所述的磁盘装置，
上述控制器根据在修正了上述第一线性误差之后读取上述伺服扇区而取得的第二线
性误差来设定上述多个测定位置。
5.根据权利要求4所述的磁盘装置，
上述控制器在判定为上述第二线性误差大于第一阈值的情况下，将上述多个测定位置
设定于第一测定位置，在判定为上述第二线性误差小于上述第一阈值的情况下，将上述多
个测定位置设定于大于上述第一测定位置的第二测定位置。
6.根据权利要求4所述的磁盘装置，
上述控制器根据上述第二线性误差的多个周期成分来设定上述多个测定位置。
7.根据权利要求6所述的磁盘装置，
上述控制器根据上述多个周期成分中的振幅大于第一阈值且最短的第一周期的第一
周期成分来设定上述多个测定位置。
8.根据权利要求7所述的磁盘装置，
上述控制器每隔上述第一周期的一半以下的第二周期而设定上述多个测定位置。
9.一种磁盘装置，具备：
盘，其具有包括伺服扇区的记录区域；
头，其对上述盘写入数据，从上述盘读取数据；以及
控制器，其取得与根据读取上述伺服扇区而取得的利萨如波形来设定的多个测定位置
分别对应的、对上述记录区域的可重复性偏摆的多个修正数据，根据上述多个修正数据来
修正上述头的位置。
10.一种头位置的修正方法，应用于磁盘装置，该磁盘装置具备：盘，其具有包括伺服扇
区的记录区域；以及头，其对上述盘写入数据，从上述盘读取数据，上述修正方法包括：
取得与根据读取上述伺服扇区而取得的第一线性误差来设定的多个测定位置分别对
应的、对上述记录区域的可重复性偏摆的多个修正数据，根据上述多个修正数据来修正上
述头的位置，
随着上述第一线性误差变大而缩小上述多个测定位置的间隔。

2
CN110931051B说明书1/11页

磁盘装置以及头位置的修正方法

技术领域
[0001]本发明的实施方式涉及磁盘装置以及头位置的修正方法。

背景技术
[0002]在磁盘装置中，开发了抑制由可重复性偏摆(RRO：RepeatableRunout)引起的误
差(以下，简称为RRO)而修正头位置的技术。例如存在以下方法：在盘的半径方向不同的多
个位置上测定RRO，根据对测定出的多个数据之间的RRO进行插值而得到的数据来修正头位
置。在修正该头位置的方法中，需要适当地设定用于测定RRO的位置。

发明内容
[0003]本发明的实施方式提供能