发明授权-2019106088470-磁盘装置以及磁盘装置的记录方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN111599384B
(45)授权公告日2021.08.17
(21)申请号201910608847.0(51)Int.Cl.
(22)申请日2019.07.08G11B5/596(2006.01)
(65)同一申请的已公布的文献号(56)对比文件
申请公布号CN111599384AJP2001344740A,2001.12.14
(43)申请公布日2020.08.28审查员严逸飞

(30)优先权数据
2019-0283282019.02.20JP
(73)专利权人株式会社东芝
地址日本东京都
专利权人东芝电子元件及存储装置株式会
社
(72)发明人友田悠介原武生前东信宏
(74)专利代理机构北京市中咨律师事务所
11247
代理人张洁段承恩权利要求书1页说明书7页附图10页
(54)发明名称
磁盘装置以及磁盘装置的记录方法
(57)摘要
实施方式提供能够使磁记录的品质提高的
磁盘装置以及磁盘装置的记录方法。根据实施方
式，磁盘装置具备磁头、磁盘和控制部。磁盘记录
有用于在由所述磁头记录数据时定位所述磁头
的伺服图形。控制部基于所述伺服图形设定所述
磁盘的每个预定单位的记录条件，根据该设定的
记录条件向所述磁盘进行数据的记录。
CN111599384B
CN111599384B权利要求书1/1页

1.一种磁盘装置，具备：
磁头；
磁盘，其记录有伺服图形，所述伺服图形用于在由所述磁头记录数据时定位所述磁头；
以及
控制部，其基于所述伺服图形设定所述磁盘的每个预定单位的记录条件，根据该设定
的记录条件向所述磁盘进行数据的记录，
所述记录条件是按每个所述预定单位使所述磁头的线记录密度以低阶的波动产生变
化的条件，
所述伺服图形包含表示每个所述预定单位的记录品质的记录品质数据，
所述控制部基于所述记录品质数据，设定所述记录条件，来使所述线记录密度以低阶
的波动产生变化。
2.根据权利要求1所述的磁盘装置，
所述预定单位是在磁道方向上按每个预定区域设置的扇区，
所述线记录密度以所述扇区为单位来切换。
3.根据权利要求2所述的磁盘装置，
所述控制部以使在所述磁道方向上相邻的所述扇区的所述线记录密度的变化在预定
比例以下的方式使所述线记录密度变化。
4.根据权利要求2所述的磁盘装置，
所述控制部基于与任意的所述扇区相邻的扇区的线记录密度，决定所述任意的所述扇
区的线记录密度。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的磁盘装置，
还具备辅助控制部，所述辅助控制部辅助所述磁头的数据的记录，
所述控制部在向所述磁盘记录所述数据时，按照所述记录条件来控制所述辅助控制部
的辅助的大小。
6.一种磁盘装置的记录方法，包括：
基于伺服图形设定磁盘的每个预定单位的记录条件，所述伺服图形用于在由磁头向所
述磁盘记录数据时在所述磁盘上定位所述磁头；
根据该设定的记录条件向所述磁盘进行数据的记录，
所述记录条件是按每个所述预定单位使所述磁头的线记录密度以低阶的波动产生变
化的条件，
所述伺服图形包含表示每个所述预定单位的记录品质的记录品质数据，
基于所述记录品质数据，设定所述记录条件，来使所述线记录密度以低阶的波动产生
变化。

2
CN111599384B说明书1/7页

磁盘装置以及磁盘装置的记录方法

[0001]本申请享受以日本专利申请2019‑28328号(申请日：2019年2月20日)为基础申请
的优先权。本申请通过参照该基础申请而包括基础申请的全部内容。

技术领域
[0002]实施方式涉及磁盘装置以及磁盘装置的记录方法。

背景技术
[0003]磁盘装置具有利用磁记录数据的记录介质。该记录介质例如成圆盘形状，构成为
由磁头(head)在圆盘的表层上、且在圆周方向上记录数据。这种记录介质因其制作原理，会
在同一周内的记录区域产生磁特性的偏差(波动)。一般而言，在磁盘装置中，在同一周内会
以相同的记录条件记录数据，因而，数据的记录条件基于同一周内的记录区域中的最难记
录的特性来决定。通过这样设定记录条件，在磁盘装置中保证在同一周内的数据的记录品
质。
[0004]然而，考虑当数据的记录条件基于同一周内的记录区域中的最难记录的特性来决
定时，在该记录区域以外的区域，有虽然满足了记录条件但会变为并非最佳的情况。也就是
说，在该情况下，记录条件变得过剩。因此，在该记录区域以外的区域，会以过剩的记录品质
记录数据。
[0005]此外，在磁盘装置中，为了消除上述的记录条件过剩的情况，已知如下技术：写入
测试图形(testpattern)，对其写入品质进行评价，由此预先评价周内分布，并基于其结果
来按每个扇区(sector)使电流波形变化。
[0006]另外，在磁盘装置中，已