发明授权-2020100084500-磁记录装置及其的磁头控制方法.pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN111951835B
(45)授权公告日2022.09.30
(21)申请号202010008450.0(51)Int.Cl.
(22)申请日2020.01.06G11B5/48(2006.01)
G11B5/55(2006.01)
(65)同一申请的已公布的文献号
申请公布号CN111951835A审查员陈亚亚

(43)申请公布日2020.11.17
(30)优先权数据
2019-0937862019.05.17JP
(73)专利权人株式会社东芝
地址日本东京都
专利权人东芝电子元件及存储装置株式会
社
(72)发明人松本拓也
(74)专利代理机构北京市中咨律师事务所
11247
专利代理师万利军段承恩权利要求书4页说明书9页附图17页
(54)发明名称
磁记录装置及其的磁头控制方法
(57)摘要
本发明的实施方式提供即便近场光元件发
生历时变化也能够维持以所设定的线记录密度
(BPI)、磁道密度(TPI)记录的信号品质从而能够
保持长期可靠性的磁记录装置及其的磁头控制
方法。实施方式的磁记录装置，在初始过程中测
定所述盘的记录信号品质并保存，在数据记录前
检查所述记录信号品质，将在检查中获得了的记
录信号品质与保存了的初始过程中的记录信号
品质相比较来判定是否满足基准，基于判定结
果，调整光照射元件的光照射功率以使得满足基
准，基于调整结果决定读偏移量，基于所决定出
的读偏移量进行控制以使读头的位置移位。
CN111951835B
CN111951835B权利要求书1/4页

1.一种磁记录装置，具备：
盘，具有包含第1磁道及与所述第1磁道部分重叠的第2磁道的多个磁道群；
磁头，具备光照射元件、写头和读头，所述光照射元件照射对所述盘进行加热的光，所
述写头向所述盘的利用所述光照射元件照射出的所述光进行了加热的范围写入数据，所述
读头从所述盘的所述磁道群内的磁道读入数据；以及
控制器，控制所述写头及所述读头的位置，
所述控制器执行：
保存处理，在初始过程中测定所述盘的记录信号品质并保存；
检查处理，在数据记录前检查所述记录信号品质；
判定处理，将在所述检查处理中获得了的所述记录信号品质与在所述保存处理中保存
了的初始过程中的记录信号品质相比较，判定是否满足基准；
调整处理，基于所述判定处理的判定结果，调整所述光照射元件的光照射功率以使得
满足所述基准；以及
位置控制处理，基于所述调整处理的调整结果决定写偏移量，基于所决定了的写偏移
量进行控制以使所述写头的位置移位，并对所述写头的位置进行控制以使磁道间距在由所
述多个磁道群构成的带内成为一定，
所述检查处理，在所述第1磁道记录检查图案并在所述第2磁道记录别的检查图案而测
定错误率，
所述基准是所测定出的错误率为预定错误率以下。
2.根据权利要求1所述的磁记录装置，
所述调整处理，将所述光照射功率调整为初始状态的照射功率以上。
3.根据权利要求1所述的磁记录装置，
所述保存处理，保存在所述初始过程中测定的磁写宽度和错误率，
所述判定处理，对利用所述光照射元件进行了光照射时的磁写宽度与在所述保存处理
中保存了的磁写宽度进行比较判定，
所述位置控制处理，进行控制以使所述写头的位置按下述值移位，该值是调整了所述
光照射功率时的磁写宽度与在所述保存处理中保存了的磁写宽度的差的一半的值。
4.根据权利要求1所述的磁记录装置，
所述位置控制处理决定为下述写偏移量，该写偏移量是在所述检查处理中在多个写偏
移量下检查记录信号品质而信号品质成为最佳的写偏移量。
5.一种磁记录装置，具备：
盘，具有包含第1磁道及与所述第1磁道部分重叠的第2磁道的多个磁道群；
磁头，具备光照射元件、写头和读头，所述光照射元件照射对所述盘进行加热的光，所
述写头向所述盘的利用所述光照射元件照射出的所述光进行了加热的范围写入数据，所述
读头从所述盘的所述磁道群内的磁道读入数据；以及
控制器，控制所述写头及所述读头的位置，
所述控制器执行：
保存处理，在初始过程中测定所述盘的记录信号品质并保存；
检查处理，在数据记录前检查所述记录信号品质；

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CN111951835B权利要求书2/4页
判定处理，将在所述检查处理中获得了的所述记录信号品质与在所述保存处理中保存
了的初始过程中的记录信号品质相比较，判定是否满足基准；
调整处理，基于所述判定处理的判定结果，调整所述光照射元件的光照射功率以使得
满足所述基准；以及
位置控制处理，基于所述调整处理的调整结果决定读偏移量，基于所决定了的读偏移
量进行控制以使所述读头的位置移位，并对所述写头的位置进行控制以使磁道间距在由所
述多个磁道群构成的带内成为一定，
所述检查处理，在所述第1磁道记录检查图案并在所述